连续通电条件下触桥结构继电器接触电阻退化机理研究

doi:10.16628/j.cnki.2095-8188.2025.02.001

电器与能效管理技术 ›› 2025, Vol. 0 ›› Issue (2): 1-5.doi: 10.16628/j.cnki.2095-8188.2025.02.001

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连续通电条件下触桥结构继电器接触电阻退化机理研究

杨昕宇, 吴承创, 何育斌, 张超, 任万滨

哈尔滨工业大学电气工程及自动化学院,黑龙江哈尔滨 150001

收稿日期:2024-10-10 出版日期:2025-02-28 发布日期:2025-03-31
作者简介:杨昕宇(1999—),男,硕士研究生,研究方向为电器可靠性测试。|吴承创(1997—),男,硕士研究生,研究方向为电器智能测试与分析。|何育斌(1997—),男,博士研究生,研究方向为电弧与电侵蚀。
基金资助:
国家自然科学基金项目(U2441286);国家自然科学基金项目(52407166);国家自然科学基金项目(52377140)

Research on Contact Resistance Degradation Mechanisms of Relay with Contact Bridge Structure Under Continuous Current Loading

YANG Xinyu, WU Chengchuang, HE Yubin, ZHANG Chao, REN Wanbin

School of Electrical Engineering and Automation, Harbin Institute of Technology, Harbin 150001, China

Received:2024-10-10 Online:2025-02-28 Published:2025-03-31

摘要/Abstract

摘要：

在高温环境中连续通电条件下,对触桥结构继电器的电接触可靠性开展实验研究,通过监测其接触电阻随通电时间的变化曲线,以及多个循环周期后的退化趋势,发现接触电阻具有逐渐增大的典型特征。进一步通过测试簧片力学性能参数,确认簧片的劲度系数降低以及触桥不平衡是接触电阻增加,并最终导致继电器接通失败的主要原因。

关键词: 连续通电, 触桥结构, 功率型继电器, 接触电阻, 簧片

Abstract:

An experimental study is carried out on the electrical contact reliability of relay with contact bridge structure under the condition of continuous current loading in high temperature environment.By monitoring the curve of the contact resistance change with power-on time and the degradation trend after several cycles, it is found that the contact resistance has a typical characteristic of gradual increase.Further, by testing the mechanical properties of the reed, it is confirmed that the decrease of the stiffness coefficient of the reed and the imbalance of the contact bridge are the main reasons leading to the increase of the contact resistance and finally the failure of the relay.

Key words: continuous current loading, contact bridge structure, power relay, contact resistance, reed

中图分类号:

TM581

杨昕宇, 吴承创, 何育斌, 张超, 任万滨. 连续通电条件下触桥结构继电器接触电阻退化机理研究[J]. 电器与能效管理技术, 2025, 0(2): 1-5.

YANG Xinyu, WU Chengchuang, HE Yubin, ZHANG Chao, REN Wanbin. Research on Contact Resistance Degradation Mechanisms of Relay with Contact Bridge Structure Under Continuous Current Loading[J]. LOW VOLTAGE APPARATUS, 2025, 0(2): 1-5.

图/表 11

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表1

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参考文献 12

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测试参数	测试位置	实验前	实验后	变化量
触头开距/mm	左侧触头	2.62	2.65	+0.03
触头开距/mm	右侧触头	2.61	2.83	+0.22
触头接触压力/N	左侧触头	2.40	2.20	-0.20
触头接触压力/N	右侧触头	2.20	0.40	-1.80

连续通电条件下触桥结构继电器接触电阻退化机理研究

Research on Contact Resistance Degradation Mechanisms of Relay with Contact Bridge Structure Under Continuous Current Loading

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