浅析GB/T 18859—2016与GB/Z 18859—2002的技术差异

doi:10.16628/j.cnki.2095-8188.2018.10.015

电器与能效管理技术 ›› 2018, Vol. 0 ›› Issue (10): 85-88.doi: 10.16628/j.cnki.2095-8188.2018.10.015

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浅析GB/T 18859—2016与GB/Z 18859—2002的技术差异

陈喜彦, 田慧超, 杨龙

[国家智能电网输配电设备质量监督检验中心,广安电气检测中心(广东)有限公司,广东东莞 523325]

收稿日期:2018-03-06 出版日期:2018-05-30 发布日期:2020-03-24
作者简介:陈喜彦(1987—),男,主要从事低压电器的技术研究和检测认证。田慧超(1985—),男,工程师,主要从事低压电器的技术研究和检测认证。杨龙(1993—),男,主要从事低压电器的技术研究和检测认证。

Discussion on Technical Differences Between Standard GB/T 18859—2016 and GB/Z 18859—2002

CHEN Xiyan, TIAN Huichao, YANG Long

China National Quality Supervision and Testing Center for Smart Grid Transmission and Distribution Equipment,Guang’an Electrical Testing Certer (Guangdong) Co.,Ltd,Dongguan 523325,China

Received:2018-03-06 Online:2018-05-30 Published:2020-03-24

摘要/Abstract

摘要： 详细介绍了新版标准GB/T 18859—2016与旧版标准GB/Z 18859—2002之间的技术差异,并对技术差异所带来的影响做进一步的探究。可供相关技术人员参考,为低压成套开关设备和控制设备的设计、制造和检测认证提供技术支持。

关键词: GB/T 18859—2016, GB/Z 18859, 2002, 标准差异, 内部故障电弧

Abstract: This paper introduced technical requirement differences between new edition standard GB/T 18859—2016 and old edition standard GB/Z 18859—2002 in detail,and analyzed the influences caused by these differences.It made a useful reference for relevant technical staff,and provided technical support for designing,manufacturing and testing about low voltage switchgear and controlgear assemblies.

Key words: GB/T 18859—2016, GB/Z 18859—2002, standard difference, internal arc fault

中图分类号:

TM501⁺.2

陈喜彦, 田慧超, 杨龙. 浅析GB/T 18859—2016与GB/Z 18859—2002的技术差异[J]. 电器与能效管理技术, 2018, 0(10): 85-88.

CHEN Xiyan, TIAN Huichao, YANG Long. Discussion on Technical Differences Between Standard GB/T 18859—2016 and GB/Z 18859—2002[J]. DIANQI YU NENGXIAO GUANLI JISHU, 2018, 0(10): 85-88.

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浅析GB/T 18859—2016与GB/Z 18859—2002的技术差异

Discussion on Technical Differences Between Standard GB/T 18859—2016 and GB/Z 18859—2002

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